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Normes Nationales|Association pour l'électrotechnique, les technologies de l'énergie et de l'information

  • SN EN 60749-20-1

    SN EN 60749-20-1
    Produit n°: 100551530
    Édition: 2009-06 | Norme | Valide

    Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d´essais mécaniques et climatiques - Partie 20-1: Manipulation, emballage, étiquetage et transport des composants pour montage en surface sensibles à l´effet combiné de...

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  • SN EN 60749-21

    SN EN 60749-21
    Produit n°: 100554710
    Édition: 2011-08 | Norme | Valide

    Dispositifs à semiconducteur - Méthodes d´essai mécaniques et climatiques - Partie 21: Brasabilité

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  • SN EN 60749-26

    SN EN 60749-26
    Produit n°: 100558386
    Édition: 2014-05 | Norme | Valide

    Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d´essais mécaniques et climatiques - Partie 26: Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle du corps humain (HBM)

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  • SN EN 60749-29

    SN EN 60749-29
    Produit n°: 100554714
    Édition: 2011-08 | Norme | Valide

    Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d´essai mécaniques et climatiques - Partie 29: Essai de verrouillage

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  • SN EN 60749-30+A1

    SN EN 60749-30+A1
    Produit n°: 100555163
    Édition: 2011-07 | Norme | Valide

    Dispositifs à semiconducteurs – Méthodes d’essais mécaniques et climatiques – Partie 30: Préconditionnement des composants pour montage en surface non hermétiques avant les essais de fiabilité

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  • SN EN 60749-35

    SN EN 60749-35
    Produit n°: 100548631
    Édition: 2006-09 | Norme | Valide

    Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d´essais mécaniques et climatiques. Partie 35: Microscopie acoustique pour composants électroniques à boîtier plastique

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  • SN EN 60749-36

    SN/Electrosuisse
    Produit n°: 100546787
    Édition: 2003-04 | Norme | Valide

    Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d´essais mécaniques et climatiques. Partie 36: Accélération constante

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  • SN EN 60749-37

    SN EN 60749-37
    Produit n°: 100549954
    Édition: 2008-04 | Note de reconnaissance | Valide

    Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d´essais mécaniques et climatiques - Partie 37: Méthode d´essai de chute au niveau de la carte avec utilisation d’un accéléromètre

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  • SN EN 60749-38

    SN EN 60749-38
    Produit n°: 100550120
    Édition: 2008-05 | Note de reconnaissance | Valide

    Dispositifs a semiconducteurs - Méthodes d´essais mécaniques et climatiques - Partie 38: Méthode d´essai des erreurs logicielles pour les dispositifs à semiconducteurs avec mémoire

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  • SN EN 60749-39

    SN EN 60749-39
    Produit n°: 100548613
    Édition: 2006-08 | Norme | Valide

    Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d´essais mécaniques et climatiques. Partie 39: Mesure de la diffusion d´humidité et de l´hydrosolubilité dans les matériaux organiques utilisés dans les composants à...

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