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Themenfelder|Energie, Elektrotechnik, Elektronik|Elektronik|Halbleiterbauelemente

  • SN EN 60749-24

    SN EN 60749-24
    ArtNr.: 100547654
    Ausgabe: 2004-04 | Norm | Gültig

    Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 24: Beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Hochbeschleunigte Wirkung (HAST) ohne elektrische Beanspruchung

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  • SN EN 60749-33

    SN EN 60749-33
    ArtNr.: 100547650
    Ausgabe: 2004-04 | Norm | Gültig

    Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 33: Beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Autoclave ohne elektrische Beanspruchung

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  • SN EN 62374-1+CORR

    SN EN 62374-1+CORR
    ArtNr.: 100553691
    Ausgabe: 2011-04 | Norm | Gültig

    Halbleiterbauelemente - Teil 1: Prüfung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) bei Isolationsschichten zwischen metallischen Leiterbahnen

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  • SN EN 62374-1/CORR

    SN EN 62374-1/CORR
    ArtNr.: 100553688
    Ausgabe: 2011-04 | Norm | Gültig

    Halbleiterbauelemente - Teil 1: Prüfung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) bei Isolationsschichten zwischen metallischen Leiterbahnen

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  • SN EN 62373

    SN EN 62373
    ArtNr.: 100548610
    Ausgabe: 2006-08 | Norm | Gültig

    Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET)

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  • SN EN 62374

    SN EN 62374
    ArtNr.: 100549307
    Ausgabe: 2007-10 | Norm | Zurückgezogen mit Ersatz

    Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten

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  • SN EN 62374-1

    SN/Electrosuisse
    ArtNr.: 100657379
    Ausgabe: 2010-11 | Anerkennungsnotiz | Gültig

    Halbleiterbauelemente - Teil 1: Prüfung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) bei Isolationsschichten zwischen metallischen Leiterbahnen

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  • SN EN 62415

    SN EN 62415
    ArtNr.: 100553034
    Ausgabe: 2010-06 | Norm | Gültig

    Halbleiterbauelemente - Konstantstrom-Prüfverfahren zur Elektromigration

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  • SN EN 62416

    SN EN 62416
    ArtNr.: 100553037
    Ausgabe: 2010-06 | Norm | Gültig

    Halbleiterbauelemente - Hot-Carrier-Prüfverfahren für MOS-Transistoren

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  • SN EN 62417

    SN EN 62417
    ArtNr.: 100552867
    Ausgabe: 2010-05 | Norm | Gültig

    Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren auf mobile Ionen für Feldeffekttransistoren mit Metall-Oxid- Halbleiter (MOSFET)

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